高分辨率微焦点DR检测系统

高分辨率微焦点DR检测系统
 
关键特征：
190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源
 JIMA卡空间分辨率测试可达2微米
支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
高分辨率的实时快速成像
快速图像处理，保存多种图像格式
 主要技术规格：
微米焦点射线管
类型
反射型高功率微焦点射线管
较大管电压
190kV/225kV/240kV/300kV
冷却
封闭式自循环冷却
焦点大小
225kV/240kV：2微米 (采用JIMA卡测试)
300kV：3微米(采用JIMA卡测试)
探测器
类型
非晶硅平板探测器/线阵探测器
像素大小
100um /127um /139um/200um
像素数量
平板探测器：>2048x2048
线阵探测器：4100
机械系统
类型
高精度机械系统
较大有效检测范围
可定制化
较大承重
可定制化
旋转
nx360°
软件
类型
二维射线检测
软件功能
系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能